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              產品詳情

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              半導體檢測機

              產品用途: 半導體IR隱崩檢查機,可穿透硅晶圓(Silicon Wafer),進行隱崩檢測。
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              產品編號
              DSI-2000
              數量
              -
              +
              1
              產品描述

              隨著半導體(Semiconductor)的制程越來越精細,晶圓(Wafer)越做越薄,晶圓級封裝所面臨的質量挑戰越來越大, 擁有專利的IR隱崩檢測機,可穿透硅晶圓(Silicon Wafer),幫助客戶確認IC是否有背崩、隱裂及隱崩的問題,并可搭載全自動上下料系統及自動判斷軟件,進行有效的質量管控。

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              深圳市維信達工貿有限公司 Shenzhen V-STAR Industry & Trade Co.,LTD.
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